深圳市禾苗分析儀器有限公司是一家以最熱門的鹵素檢測儀、國產(chǎn)鍍層測厚儀和XRF為主要業(yè)務(wù)的公司。我們致力于提供有優(yōu)質(zhì)的鍍層測厚儀器服務(wù)。深圳市禾苗分析儀器有限公司成立于2012-06-05，作為一家社會責(zé)任感強的公司，禾苗分析將依托強大的實力，在X熒光光譜儀領(lǐng)域內(nèi)樹立最具口碑的品牌形象。

   深圳市禾苗分析儀器有限公司堅持走社會效益、經(jīng)濟效益與環(huán)境效益并重的企業(yè)發(fā)展之路，立足于商務(wù)服務(wù)行業(yè)，努力追求管理技術(shù)創(chuàng)新，不斷拓展服務(wù)領(lǐng)域，積極營造溫馨的文化氛圍，為您提供高性價比的RoHS檢測產(chǎn)品，并樹立禾苗分析禾苗HELEEX品牌形象。 延伸拓展 產(chǎn)品詳情：膜厚測試儀校準(zhǔn)方法 膜厚測試儀校準(zhǔn)方法 1儀器校零 1．1將測量探頭壓在鐵基上（或不帶涂層的測量體上），滄州歐譜再輕按一下校零鍵ZERO進行校零。在按ZERO鍵時，測量探頭在鐵基上不要晃動。同時要注意，只有在按完ZERO鍵后，才能提起探頭，否則，校零不正確。 1．2將測量探頭提起（或不帶涂層的測量體上），觀察鐵基上的測量值，若測量值在0附近，說明校零成功，否則，應(yīng)得新校零。 2儀器校滿度 2．1根據(jù)要測量的涂層厚度，選擇 適當(dāng)?shù)臉?biāo)準(zhǔn)膜片，進行滿度校準(zhǔn)。 2．2先將標(biāo)準(zhǔn)膜片放在鐵基上（或不帶涂層的測量體上）。 C2．3再將測量探頭壓在標(biāo)準(zhǔn)膜片上，測量值就顯示在顯示器上，若測量值與標(biāo)準(zhǔn)膜片不同，測量值可通過加1鍵或減1鍵來修正。修正時，測量探頭一定提起，否則，按加1鍵或減1鍵無效。 2．4為保證校滿度的準(zhǔn)確性，可通過多次測同一標(biāo)準(zhǔn)膜片來驗證。

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