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數(shù)字IC測(cè)試儀，數(shù)字IC測(cè)試儀器，數(shù)字式IC測(cè)試儀，數(shù)字IC測(cè)試儀廠家，頻譜分析儀第一品牌【美創(chuàng)儀器儀表，137 9855 6637，黃先生】

測(cè)試芯片的過程就是由80C31單片機(jī)、74HC573(功能等同74HC373,只是引腳排列不同)、EPROM 27C256組成的單片機(jī)系統(tǒng)用存儲(chǔ)在EPROM 27C56 內(nèi)的芯片的邏輯數(shù)據(jù)與芯片的實(shí)際輸入輸出邏輯關(guān)系逐一進(jìn)行比較，如果相同則確定是該型號(hào)芯片。然后把型號(hào)送到顯示電路，并發(fā)出一短音提示。如沒有與被測(cè)試芯片相同邏輯關(guān)系的數(shù)據(jù)，則認(rèn)為是壞芯片或是其它種類的芯片，這時(shí)顯示999，并有三聲短音提示。TTL74/54、CMOS40/45 系列芯片的引腳基本上在14～20這個(gè)范圍。測(cè)試時(shí)無論被測(cè)芯片引腳多少，芯片的１腳恒定在測(cè)試座的１腳，這就把１腳對(duì)邊的正電源腳Vcc固定在測(cè)試座的20腳上，由此腳為被測(cè)芯片提供+5V電源。根據(jù)被測(cè)芯片引腳的多少，電源地由測(cè)試座的7～10腳提供。由于測(cè)試中測(cè)試座除了10腳和20腳其余各腳要即能作為輸入也能作為輸出。80C31的 P1口、P3 口正好能滿足要求。因?yàn)樗鼈兪怯猩侠娮璧拈_漏極輸出，當(dāng)作為輸入時(shí)可被輸入的低電平拉低。由于80C31可用的I/O口不夠用，所以擴(kuò)展了一個(gè)與 80C31類似的8位準(zhǔn)雙向I/O口。由74HC573(8D鎖存器)74HC05(6非門, 開漏極輸出 ) 、74HC245(8三態(tài)雙向緩沖器)、三極管VT1～VT4等元件組成，137 9855 6637，黃先生，頻譜分析儀http://www.china-mch.com

１、接通電源，將待測(cè)集成塊的腳“1”對(duì)準(zhǔn)集成電路插座上的腳“1 ”恒定位置,插入插座并鎖緊。
２、連續(xù)按動(dòng)“系列選擇”鍵，從LCD顯示屏上選出所需的系列號(hào)。如74、40、45。
３、按動(dòng)“型號(hào)測(cè)試”鍵，對(duì)IC進(jìn)行測(cè)試。如果IC性能合格， 儀器將顯示其型號(hào)，并嗚笛一聲；如果IC未能通過測(cè)試，儀器將嗚笛三聲（LCD 仍然顯示所選的系列號(hào)），此時(shí)，測(cè)試人應(yīng)從插座上取下IC，認(rèn)真檢查所有管腳，排除短路、斷路及插座接觸不良等故障后再次測(cè)試，仍然不能通過測(cè)試的IC，應(yīng)判為不合格。
4、多片同型號(hào)IC測(cè)量時(shí),應(yīng)先按“型號(hào)測(cè)試”測(cè)出首片型號(hào)，再按“性能測(cè)試”鍵，測(cè)余下的IC。（在“性能測(cè)試”狀態(tài)下，儀器不再搜索IC型號(hào)，因此測(cè)量時(shí)可大幅度節(jié)省時(shí)間和電池能量。）IC性能合格，儀器將顯示其型號(hào)；IC 性能不合格時(shí)，儀器將顯示“999”，并嗚笛三聲。
５、對(duì)于不知名的數(shù)字集成電路，可以按74、40、45三個(gè)系列分別進(jìn)行測(cè)試，最終將測(cè)出它的型號(hào)。

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注意事項(xiàng)：
１、測(cè)量IC前，應(yīng)清理管腳，排除可能造成接觸不良的因素。
２、測(cè)量IC時(shí)，應(yīng)牢記“對(duì)號(hào)入座”，避免IC插反。
３、儀器長(zhǎng)期不用，應(yīng)打開后蓋，取出電池，避免電池液流出腐蝕儀器。

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