Tektronix DSA8300系列提供了行業(yè)領先的小于100fs的本底抖動，可以實現異常準確的器件檢定，全面支持光通信標準、時域反射計和S參數。DSA8300數字采樣示波器為155Mb/s - 100G的數據通信提供了完整的高速物理層測試平臺。 功能 優(yōu)勢 電模塊信號測量準確度： 超低系統抖動（典型 < 100 fs） > 70GHz < 100 fs 本底抖動允許對高位速率（40 和 100 (4′25) Gb/s）設備進行檢定，典型 < 5% 的信號單位間隔由測試儀器所使用。70 GHz 帶寬允許對高位速率信號進行完整檢定（數據速率 28 Gb/秒的 5 階諧波和數據速率 > 45 Gb/秒的 3 階諧波）。 所有帶寬上系統噪聲業(yè)內最低： 600 μV 最大（450 μV 典型）@ 60 GHz 380 μV 最大（280 μV 典型）@ 30 GHz 最大程度降低儀器在采集高位速率、低幅度信號時的噪聲量，避免可能帶來附加抖動和眼圖閉合的其他噪聲。 單臺主機內最多 6 個通道同時采集 < 100 fs 抖動。 多個差分通道的高保真采集可進行通道間損傷測試，提高多個高速串行通道系統的測試吞吐量。 光模塊支持從 155 Mb/s 到 100 Gb/s (4x25) 以太網所有標準速率的光一致性測試。 為單模和多模光標準提供經濟實惠、功能多樣的光測試系統，從 155 Mb/s (OC3/STM1) 到 40 Gb/s（SONET/SDH 和 40GBase 以太網）和 100 Gb/s 以太網（100GBase-SR4、-LR4 和 ER4），波長 850、1310 和 1550nm。 優(yōu)異的采集吞吐量，采樣率最高 300 kS/s。 通過優(yōu)異的系統吞吐量，可將制造或設備檢定測試時間縮短 4 倍。 能夠將采樣器放到被測設備 (DUT) 的附近。 遠程采樣頭最大程度降低因 DUT 至儀器之間的電纜和夾具造成的信號劣化，簡化測試系統的反嵌。 獨立的已校準通道相差校正。 雙通道模塊中具有集成的已校準通道相差校正，消除時滯，增強多通道測量的信號保真度。 型號 模擬帶寬 采樣率 記錄長度 模擬通道 DSA8300 DC - 80 GHz 最大 300 kS/s 50 點 - 16，000 點（IConnect? 為 1M 點，80SJNB 為 10M 點） 取決于使用的采樣模塊，最多8條通道 本文出自電子測量儀器專家盛鉑科技，http://www.samplesci.com