光學(xué)影像測(cè)量?jī)x的發(fā)展趨勢(shì)
　　近年來(lái)，隨著國(guó)家裝備制造業(yè)的快速轉(zhuǎn)型，極大的促進(jìn)了測(cè)量?jī)x器業(yè)的發(fā)展。測(cè)量技術(shù)，


已從機(jī)械式的接觸式對(duì)比測(cè)量轉(zhuǎn)變?yōu)榉墙佑|式光學(xué)影像測(cè)量；測(cè)量精度也從傳統(tǒng)的0.01mm 達(dá)到


0.001mm，甚至0.0005mm 等；測(cè)量效率從簡(jiǎn)單的手動(dòng)發(fā)展到全自動(dòng)化高速測(cè)量；測(cè)量范圍從普


通的機(jī)械加工測(cè)量發(fā)展到目前電路板、液晶板等微型化、小型化檢測(cè)。光機(jī)電一體化、集成化


技術(shù)的迅速發(fā)展，非接觸式光學(xué)影像式測(cè)量已成為測(cè)量?jī)x器業(yè)的發(fā)展趨勢(shì)。
　　現(xiàn)代光學(xué)影像測(cè)量?jī)x器的技術(shù)特征
　　現(xiàn)代測(cè)量?jī)x器已從過(guò)去的機(jī)械式測(cè)量發(fā)展到目前的光機(jī)電一體化高度集成的非接觸式光學(xué)


影像測(cè)量技術(shù)。與傳統(tǒng)的測(cè)量?jī)x器比較，非接觸式光學(xué)影像式測(cè)量?jī)x器主要有以下幾個(gè)主要特


征：
　　1 測(cè)量方式多樣性：非接觸式光學(xué)影像測(cè)量
　　傳統(tǒng)的測(cè)量方式為機(jī)械式游標(biāo)卡尺、千分尺等接觸式測(cè)量；現(xiàn)代的測(cè)量方式多樣，有激光


掃描測(cè)量和光學(xué)影像測(cè)量等測(cè)量技術(shù)，尤其是光學(xué)影像式測(cè)量在近年得到了推廣和應(yīng)用。利用


傳感器技術(shù)、電子技術(shù)、軟件技術(shù)和光學(xué)CCD 成像等綜合性學(xué)科技術(shù)，對(duì)所測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行圖像處


理分析、檢測(cè)，有效的解決了人為因素對(duì)產(chǎn)品造成的不確定影響，提高了檢測(cè)的準(zhǔn)確度。
　　2 高精密測(cè)量：精度由傳統(tǒng)毫米級(jí)、微米級(jí)向納米級(jí)邁進(jìn)，測(cè)量精度等級(jí)得到了質(zhì)的提高
　　傳統(tǒng)的檢測(cè)方法，主要使用鋼板尺、游標(biāo)卡尺和千分尺等常用檢測(cè)器具對(duì)所測(cè)物品進(jìn)行測(cè)


量，測(cè)量精度只能達(dá)到毫米、最多微米等級(jí)，測(cè)量精度低下，已不能滿足現(xiàn)代化機(jī)械裝備制造


業(yè)的發(fā)展需求。非接觸式光學(xué)影像測(cè)量，通過(guò)科學(xué)的圖像處理分析計(jì)算方法，精度等級(jí)可以達(dá)


到微米、納米級(jí)精度，提高了檢測(cè)的精度等級(jí)，為制造業(yè)的發(fā)展提供了可靠的保證。
　　3 高效率檢測(cè)：全自動(dòng)大批量檢測(cè)
　　傳統(tǒng)的檢測(cè)方式都是手動(dòng)、單件的檢測(cè)，如果遇到大批量生產(chǎn)，要求全檢等，就會(huì)造成檢


測(cè)效率低下，而且增加更多的人為不確定因素。非接觸式光學(xué)影像測(cè)量，通過(guò)全自動(dòng)伺服控制


，加上配備合理的工裝驗(yàn)具將極大的提高檢測(cè)的效率和準(zhǔn)確度，每分鐘可檢測(cè)幾個(gè)、幾十個(gè)甚


至更多的產(chǎn)品，特別適合大批量生產(chǎn)和檢測(cè)。
　　4 測(cè)量范圍的多樣性：同一儀器可檢測(cè)長(zhǎng)度、角度和圓度等多種元素
　　傳統(tǒng)的檢測(cè)驗(yàn)具主要檢測(cè)長(zhǎng)度尺寸，如鋼板尺、游標(biāo)卡尺和千分尺等，對(duì)于圓度、角度等


的檢測(cè)又得更換其他專用的檢測(cè)量具；非接觸光學(xué)影像測(cè)量?jī)x器，可同時(shí)檢測(cè)長(zhǎng)度、角度、圓


度等多種元素，一職多責(zé)，滿足客戶全方位檢測(cè)需求。
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