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鍍層表面污點成分分析
金屬鍍層與涂層共性檢測包括外觀、厚度、硬度、殘余應力、界面結(jié)合力、孔隙度測量和顯微組織觀察等,特性分析包括耐磨、耐蝕、耐高溫、抗氧化、導電性檢測等。
本公司成分分析主要設備為:
掃描電子顯微鏡能譜測試儀(SEM-EDS)
透射電鏡(TEM)
凝膠色譜儀(GPC)
X射線熒光檢測(XRF)
直讀光譜檢測
原子發(fā)射光譜(ICP-OES)檢測
原子吸收光譜(AAS)
氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用(GC-MS)
高效液相色譜儀(HPLC)
紅外光譜分析(FT-IR)
熱紅聯(lián)用儀(TG-IR)
紫外-可見光分光光度儀(UV-Vis)
原子熒光儀(AFS)
離子色譜儀(IC)
碳硫分析儀
氮氧分析儀
核磁共振分析
差熱分析儀
熱機械分析
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